Trouver votre formation
Trouver ma formation
Je veux me former en
sélectionner
Achats et Supply Chain
Lean Management & Lean Six Sigma, Excellence Opérationnelle
Projets, Leadership et Management de la transformation
Systèmes d'information et Technologies du digital
Technologies et Systèmes
?
Dans quel domaine ?
et plus précisément en
sélectionner
?
Dans quel sous domaine ?
Achats
Agilité
Architecture des Systèmes d'Information
Automatique/signaux
Big Data
Cloud Computing
Cybersécurité
Électronique de Puissance
Électronique et instrumentation
Énergie électrique et thermique
Industrie 4.0
Ingénierie Durable
Ingénierie Systèmes
Innovation et Intrapreneuriat
Intelligence Artificielle
Lean Management
Lean Six Sigma
Management de projets, leadership
Mécanique
Négociation
Objets connectés
PLM
Risk Management
Supply chain management
Technologies du digital
Télécommunications
Transformation digitale
grâce à une
sélectionner
?
Quel type de formation ?
Formation certifiante
Formation diplômante
Formation courte
DécouvrIR les formations

Contexte

Dans de nombreux problèmes liés aux mesures (contrôle non destructif, tomographies, conception de capteurs...), il est nécessaire de déterminer les grandeurs recherchées à partir d'observations indirectes entachées d'incertitudes et d'un modèle imparfait de la relation « directe » liant les grandeurs recherchées aux observations.

Traditionnellement, on se contente de relations biunivoques et si possible linéaires entre une seule grandeur et une seule observation.
Dans de nombreux cas, ceci est insuffisant et il faut envisager de nouvelles méthodes mieux adaptées à cette problématique et utilisant des outils probabilistes.
Les progrès actuels se font selon trois axes principaux
• amélioration de la pertinence des modèles
• augmentation de la qualité des techniques « d'inversion » qui permettent de remonter vers les grandeurs recherchées à partir des observations
• optimisation des observations (choix, caractéristiques...).

Cette formation présente ces techniques récentes de traitement du signal.

ObjectifS

APPREHENDER l'impact sur les techniques de mesure, des nouvelles méthodes de traitement du signal

PROGRAMME

  • Introduction
    - La mesure en tant qu'inversion d'une relation physique.
    - Exemples de sensibilisation (problème direct, instrumentation, problème inverse).
  • Méthodes d'estimation
    - Nécessité d'une prise en compte de l'information a priori.
    - Points de vue déterministe et bayésien.
    - Méthodes générales d'inversion.
  • Modélisation des systèmes physiques
    - Intérêt de la simulation des problèmes directs.
    - Utilisation des méthodes d'éléments finis.
    - Conséquences pour les algorithmes d'inversion.
    - Exemples.
  • Optimisation des mesures
    - Position du problème.
    - Obtention de critères quantitatifs sur l'apport d'information.
    - Méthodes d'optimisation.
  • Exemples
    - Illustration des méthodes présentées par des exemples pris dans des domaines variés (contrôle non destructif par courants de Foucault, débitmétrie ultrasonore...).

public concerné

Ingénieurs confrontés à des problèmes de mesure complexes

en pratique

Méthodes pédagogiques

Apports théoriques et pratiques
Travaux dirigés

Moyens pédagogiques

Séance en salle de formation

Modalités d'évaluation

L'évaluation des connaissances acquises en formation s'appuie sur la réalisation de mise en situation et des études de cas mises en oeuvre par le formateur.

Statistiques

3500
cadres formés par an

6
campus en France et dans le monde

1
centre de formation au coeur de Paris

89%
de nos participants recommandent nos formations
(source 1er semestre 2019)

Votre contact pour cette formation

Virginia Pena Santos
Chargée d'affaires

+33 (0)1 75 31 60 06

virginia.pena-santos@centralesupelec.fr

Ils vous en parlent

Nos formations Technologies et Systèmes sont en lien direct avec les professionnels de l'ingénierie système et les travaux des laboratoires de recherche de l'École CentraleSupélec. Nos programmes permettent d'appréhender non seulement les fondements scientifiques et techniques mais aussi la réalité du marché (technologies concurrentes, produits et services émergents, clients et consommateurs, réalités économiques, éthiques, globalisation, etc.) pour permettre l'innovation. Cette double approche permet ainsi aux participants d'élargir leur compréhension d'une thématique et de renforcer leur capacité d'intervention dans le cadre de leur mission (Recherche et Développement, veille, orientations stratégiques, etc.)

Jean Lebreton, 
Responsable du programme Technologie et Système

Méthodes avancées de traitement du signal appliquées aux mesures

Référence :
LG02-21
Prix :
2 390€ (HT)
(Restauration offerte)
contact
  • Formation programmée à la demande. Nous consulter.
    + Plus de dates
  • 4 jours - 28 heures
  • Campus Paris-Saclay (Gif-sur-Yvette)

Ils parlent de cette formation

Vidéos
articles

Formations sur le même thème

toutes nos formations

Télécharger la brochure

Aller au contenu principal